KS-42A/42AF電子化學(xué)試劑顆粒測(cè)定儀的介紹
更新時(shí)間:2024-07-31 點(diǎn)擊次數(shù):741
馬爾文Zetasizer系列納米粒度和Zeta電位及電位滴定,應(yīng)用光散射原理,能夠快捷的表征納米顆粒,膠體和蛋白質(zhì)的物理特性,廣泛用于納米材料領(lǐng)域,適用于所有能夠穩(wěn)定存在于溶液中作布朗運(yùn)動(dòng)的顆粒,包括乳液,懸浮液,蛋白質(zhì)等樣品的粒度分布和Zeta電位值、連續(xù)滴定pH。應(yīng)用領(lǐng)域包括:海洋、納米技術(shù)、生物、醫(yī)藥、涂層、化工等領(lǐng)域,符合ISO13321和ISO22412國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。其測(cè)量范圍。
測(cè)試原理:使用壓力來施加作用于測(cè)試樣品上,通過觀察樣品在不同壓力下的變形、斷裂或碎裂情況來評(píng)估其強(qiáng)度和耐碎性。可以根據(jù)需要選擇不同的測(cè)試方法,如單軸壓縮、剪切等。
樣品容器:通常提供各種規(guī)格和形狀的樣品容器,以適應(yīng)不同類型和尺寸的顆粒材料。容器通常具有高密封性能,確保在施加壓力時(shí)不會(huì)發(fā)生泄漏。
加載系統(tǒng):加載系統(tǒng)用于施加壓力到測(cè)試樣品上。它通常包括一個(gè)(或多個(gè))活塞、液體或氣體驅(qū)動(dòng)裝置以及相應(yīng)的傳感器來監(jiān)測(cè)施加到樣品上的壓力。
數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng):顆粒強(qiáng)度測(cè)定儀配備了數(shù)據(jù)采集設(shè)備,可以實(shí)時(shí)記錄樣品在施加壓力下的變形情況。這些數(shù)據(jù)可以用來計(jì)算顆粒材料的強(qiáng)度參數(shù),并通過分析軟件進(jìn)行進(jìn)一步處理和解釋。